第七十章 兩項測試

　　“話說學姐為啥不寫綜述呢？”許秋疑惑道：“吳菲菲和段云可都發了一篇綜述。”

　　“我也想寫呀，可是我的實力不允許啊，”陳婉清嘆了口氣道：

　　“要是我寫的話，發個中文核心期刊還成，英文的估計就只能發發二區末流的期刊了。

　　主要是魏老師對綜述的要求比較高，一般都是要發一區的，他覺得投個二區的綜述還不如不寫。

　　“敢問學姐六級過了嗎？”許秋道。

　　“當然過了，讀博對英語成績都是有要求的，像我那一年的要求是六級過450分，我剛好壓線，455分，”陳婉清道：

　　“聽說今年就漲到480分了，以后的門檻肯定會越來越高的，幸好我來的早。

　　對了，你XRD和掃描電鏡SEM的樣品準備了沒有，下午還要測試呢。”

　　“差點忘了，還沒有準備，那要怎么制樣呢？”許秋道。

　　“XRD的樣品就正常涂在玻璃片上，然后為了防止薄膜變質，需要真空密封起來，在測試前再打開包裝。

　　SEM的樣品，同樣是涂在玻璃片上，要用玻璃刀把玻璃片從它的背面劃開，再將其掰成兩半用來測試斷面。

　　像是有機薄膜的SEM樣品，掰斷前需要用液氮驟冷使薄膜固定，鈣鈦礦的話不用，直接制樣就可以了。”

　　這兩種樣品的制備方法比較簡單，許秋只花費不到半小時就完成了。

　　其中，真空密封用的設備是TB買的電加熱真空封口機。

　　中途，陳婉清下樓預約了兩點半的SEM測試。

　　下午一點二十多分，兩人如約去測試XRD，來到材料二樓104房間。

　　負責該儀器的是徐慧老師，她同時還管理著原子力顯微鏡AFM。

　　許秋認識她，她是材料化學實驗課程中的老師之一，不過對方好像并不記得他。

　　他們是下午第一批測試的人，前面沒有人在測試。

　　所以，陳婉清在和徐慧老師打了招呼后，就直接進入測試房間，裝上樣品，準備測試。

　　她提前詢問過吳菲菲鈣鈦礦材料的XRD峰位置，一般在0-30度之間，便將測試角度設置為1-30度。

　　這是因為0-1度之間的信號強度太強，為了防止出現超過檢測器檢測限的情況，便從1度開始測試。

　　XRD設備只占地幾個平方米，外面有一個保護罩，儀器上貼有“當心電離輻射”標志。

　　看到這邊的設備，許秋感慨道：

　　“相比于魔都同步輻射光源的體量，這里的設備也太小了點。”

　　“那當然了，普通XRD只能檢測具有高結晶性的小分子材料。”陳婉清道：

　　“而光源那邊因為X射線的亮度是這邊的一億倍以上，因此即使只有微弱結晶性能的有機聚合物材料，也能夠檢測出來它們結晶信息。”

　　許秋點點頭，他突然有了一個想法。

　　模擬實驗室目前只有材料一樓216一個實驗室。

　　而它在升級至2級后，體積增加到1000立方米，擴大了10倍，里面還有很多空間可以利用。

　　“系統，可以把這臺XRD儀器復制進模擬實驗室中嗎？”

　　可以。復制成功。

　　許秋發現模擬實驗室中新開辟出一個房間，正是當前這個104房間，XRD儀器也在里面。

　　果然可以復制，許秋心中盤算：

　　這樣的話，以后把所有能用到的儀器都復制到模擬實驗室中，再配合加速功能，實驗進度可以起飛了。

　　既然已經復制了儀器，自然也要復制技能。

　　雖然學姐也有XRD的技能，但是想必沒有徐慧老師的熟練度高。

　　“系統，記錄徐慧的X射線衍射儀和原子力顯微鏡的技能。”

　　記錄成功。

　　許秋查看熟練度，果然徐慧老師的兩項技能均在五階0%以上。

　　弄好這些后，許秋將注意力重新轉移到現實中。

　　第一個樣品的測試結果已經出來，樣品在7度、14度、21度分別有三個峰出現。

　　測試完剩余的三個樣品，剛好花費了半小時左右的時間。

　　拷貝數據稍微有些復雜。

　　通常這些大型儀器設備的電腦為了防止中病毒，是既不聯網也不能直接插U盤的。

　　需要通過網上鄰居共享文件夾到另外一臺電腦上，才能拷貝數據文件。

　　兩人拿上數據，做好實驗登記，和徐慧老師打聲招呼，便離開了。

　　回到材料一樓，許秋將剛到手的XRD數據處理完，制成圖片后，和學姐一同前去測試SEM。

　　來到SEM房間的門口，許秋看到門上布滿了歲月的痕跡，便說道：

　　“這門看著都這么老了，這臺電鏡買了很多年了吧。”

　　“應該有十幾年吧，”陳婉清道：“所以用它拍出來的圖像有時候比較糊，估計這臺電鏡過幾年就要退役了。”

　　“不過我們就是測個厚度，也沒太高的要求，要是追求圖片的質量，可以去化學系蹭儀器，他們好像在兩年前剛換了新的SEM儀器。”

　　許秋敲門后，兩人進入房間，頓時一股涼意鋪面而來。

　　“呼，好冷。”許秋打了個哆嗦。

　　“是啊，SEM儀器的使用溫度一般在20度左右，所以夏天需要把空調開到最低，而且等下還要用到液氮，還會降溫。”陳婉清解釋道。

　　許秋點點頭，開始觀察SEM設備。

　　雖然這里的門很破，但是從外表看設備保養的還算不錯。

　　一個防震臺上放著樣品艙，然后連接著一臺操作電腦，一名老教師坐在電腦旁邊。

　　“胡老師，我們來拍斷面的SEM，測量樣品厚度，”陳婉清將裝有樣品的培養皿遞了過去。

　　“這是樣品。”

　　之后，就全程是胡老師在操作，許秋和陳婉清坐在旁邊看著。

　　因為只是測試樣品厚度，所以比較簡單，只需要找到薄膜和玻璃的位置，將其放大后，置于畫面中央，然后拍照即可。

　　每拍一張照片前，胡老師都會和陳婉清確認。

　　許秋做了五個不同濃度下的FAPbCl3薄膜樣品，最終共得到五張圖片。

　　從電腦窗口中，可以看到明亮的一層鈣鈦礦薄膜。

　　通過軟件，胡老師計算出每個樣品的薄膜厚度，并標注在圖片上。

　　其中，最優條件下的樣品膜厚大約為28納米。

　　離開前，許秋同樣復制了這間實驗室，以及胡老師的SEM技能。